Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
暫譯: 掃描穿透電子顯微鏡：材料科學應用的先進表徵方法

本書專注於解釋和應用基於機器學習的技術原則以及當前在電子顯微鏡社群中使用的先進影像處理方法，這些方法適合處理大型電子顯微鏡數據集並提取各種材料的結構-性質信息。

Dr. Alina Bruma received her PhD degree in Nanoscale Physics from The University of Birmingham, UK in 2013. Dr. Bruma completed several postdoctoral stages at the Laboratory of Crystallography and Materials Science (CRISMAT-CNRS) France, University of Texas at San Antonio, USA and The National Institute of Standards and Technology, USA before moving to the American Institute of Physics Publishing in 2019. Her research has been focused on the study of crystalline structure of materials and the determination of their structure-property relationship using transmission electron microscopy and electron diffraction. Dr Bruma is also the Chairman of The Electron Diffraction sub-committee at the International Center for Diffraction Data (ICDD).

阿莉娜·布魯瑪博士於2013年在英國伯明翰大學獲得納米尺度物理學的博士學位。布魯瑪博士在法國晶體學與材料科學實驗室（CRISMAT-CNRS）、美國德克薩斯州聖安東尼奧大學以及美國國家標準與技術研究所完成了幾個博士後階段，並於2019年轉至美國物理學會出版部。她的研究專注於材料的晶體結構研究，以及利用透射電子顯微鏡和電子衍射確定其結構-性質關係。布魯瑪博士也是國際衍射數據中心（ICDD）電子衍射小組委員會的主席。