低功率、高分辨率的 A-D 轉換器 Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration

譯者序
原書序
縮略語表
物理量符號
第1章 緒論
1.1 A-D轉換系統
1.2 淺談當前的設計與調試實踐分析
1.3 動機
1.4 本書內容組成
第2章 A-D轉換
2.1 高速、高分辨率A-D轉換器架構選擇
2.1.1 多步A-D轉換器
2.1.2 管線A-D轉換器
2.1.3 並行管線A-D轉換器
2.1.4 A-D轉換器實現比較
2.2 低壓A-D轉換器設計註釋
2.3 A-D轉換器模塊
2.3.1 S/H
2.3.2 運算放大器
2.3.3 鎖存比較器
2.4 A-D轉換器：總結
第3章 多步A-D轉換器的設計
3.1 多步A-D轉換器架構
3.2 非理想多步A-D轉換器的設計註意事項
3.3 時間交錯的前端S/H電路
3.3.1 時間交錯架構
3.3.2 S/H單元的匹配
3.3.3 電路設計
3.4 多步A-D轉換器級設計
3.4.1 粗略量化
3.4.2 精細量化
3.5 中間級設計和校準
3.5.1 子D-A轉換器設計
3.5.2 殘差放大器
3.6 實驗結果
3.7 小結
第4章 多步A-D轉換器的測試
4.1 準靜態結構試驗的模擬ATPG
4.1.1 測試策略定義
4.1.2 基於準靜態節點電壓法的線性故障模型
4.1.3 決策標準和測試刺激優化
4.2 可測性概念的設計
4.2.1 功率掃描鏈DfT
4.2.2 應用實例
4.3 用於BIST的片上激勵的產生
4.3.1 連續和離散時間電路拓撲
4.3.2 連續和離散時間波形發生器的設計
4.4 內置自測概念的註釋
4.5 深亞微米CMOS工藝的隨機分析可靠電路設計
4.5.1 用於過程變異性分析的隨機MNA
4.5.2 噪聲分析的隨機MNA
4.5.3 應用示例
4.6 小結144
第5章 多步A-D轉換器的調試
5.1 傳感器網絡概念
5.1.1 觀察策略
5.1.2 集成傳感器
5.1.3 決策窗口和應用限制
5.1.4 DLPM電路設計
5.1.5 溫度傳感器
5.2 模板級過程變化的估計
5.2.1 預期最大化算法
5.2.2 向量機限制估計器
5.3 多步A-D轉換器級的調試
5.3.1 質量標準
5.3.2 估算方法
5.4 DfT用於多步轉換器的完全可訪問性
5.4.1 測試控制塊
5.4.2 模擬測試控制塊
5.5 時間交織系統的調試
5.6 前景校準
5.7 實驗結果
5.7.1 A-D測試窗口生成/更新的結果應用
5.7.2 A-D轉換器調試和校準的結果應用
5.8 小結
第6章 結論和建議
6.1 結果概述
6.2 推薦和未來研究
附錄
附錄A
A.1 時間不匹配
A.2 偏移不匹配
A.3 增益不匹配
A.4 帶寬不匹配
A.5 一般表達式
附錄B
B.1 使用正弦波的A-D轉換器非線性的直方圖測量
B.2 均方誤差
B.3 測量不確定性
參考文獻