ESD Physics and Devices (Hardcover)
暫譯: 靜電放電物理與元件 (精裝版)

Steven H. Voldman

  • 出版商: Wiley
  • 出版日期: 2004-10-29
  • 售價: $6,600
  • 貴賓價: 9.5$6,270
  • 語言: 英文
  • 頁數: 420
  • 裝訂: Hardcover
  • ISBN: 0470847530
  • ISBN-13: 9780470847534
  • 相關分類: 物理學 Physics
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商品描述

This volume is the first in a series of three books addressing Electrostatic Discharge (ESD) physics, devices, circuits and design across the full range of integrated circuit technologies. ESD Physics and Devices provides a concise treatment of the ESD phenomenon and the physics of devices operating under ESD conditions. Voldman presents an accessible introduction to the field for engineers and researchers requiring a solid grounding in this important area. The book contains advanced CMOS, Silicon On Insulator, Silicon Germanium, and Silicon Germanium Carbon. In addition it also addresses ESD in advanced CMOS with discussions on shallow trench isolation (STI), Copper and Low K materials.

  • Provides a clear understanding of ESD device physics and the fundamentals of ESD phenomena.
  • Analyses the behaviour of semiconductor devices under ESD conditions.
  • Addresses the growing awareness of the problems resulting from ESD phenomena in advanced integrated circuits.
  • Covers ESD testing, failure criteria and scaling theory for CMOS, SOI (silicon on insulator), BiCMOS and BiCMOS SiGe (Silicon Germanium) technologies for the first time.
  • Discusses the design and development implications of ESD in semiconductor technologies.

An invaluable reference for EMC non-specialist engineers and researchers working in the fields of IC and transistor design. Also, suitable for researchers and advanced students in the fields of device/circuit modelling and semiconductor reliability.

商品描述(中文翻譯)

本卷是三本書系列中的第一本,針對靜電放電(Electrostatic Discharge, ESD)的物理學、設備、電路和設計,涵蓋各種集成電路技術。ESD 物理學與設備 提供了對 ESD 現象及在 ESD 條件下運作的設備物理學的簡明介紹。Voldman 為需要在這一重要領域打下堅實基礎的工程師和研究人員提供了易於理解的入門介紹。本書包含先進的 CMOS、絕緣體上的矽(Silicon On Insulator, SOI)、矽鍺(Silicon Germanium)和矽鍺碳(Silicon Germanium Carbon)。此外,還討論了先進 CMOS 中的 ESD,涉及淺溝槽隔離(Shallow Trench Isolation, STI)、銅(Copper)和低介電常數材料(Low K materials)。

- 提供對 ESD 設備物理學和 ESD 現象基本原理的清晰理解。
- 分析半導體設備在 ESD 條件下的行為。
- 關注先進集成電路中由 ESD 現象引起的問題日益受到重視。
- 首次涵蓋 CMOS、SOI、BiCMOS 和 BiCMOS SiGe 技術的 ESD 測試、失效標準和縮放理論。
- 討論 ESD 在半導體技術中的設計和開發影響。

這是一本對於從事集成電路和晶體管設計的 EMC 非專業工程師和研究人員來說,極具價值的參考書籍。同時也適合從事設備/電路建模和半導體可靠性研究的研究人員和高級學生。