JTAG 測試原理與應用
孫清華
- 出版商: 全華圖書
- 出版日期: 2000-06-30
- 定價: $280
- 售價: 9.0 折 $252
- 語言: 繁體中文
- ISBN: 9572129228
- ISBN-13: 9789572129227
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商品描述
- 本書共有六章及附錄資料,依序為第一章JTAG 測試之必要性,第二章JTAG 測試相容元件之架構,第三章JTAG 測試之功能,前三章介紹JTAG 測試之歷史沿革及原理。第四章簡易版JTAG 測試之程式設計,第五章JTAG 測試之應用,第六章類比IC 之JTAG 測試,後三章屬於JTAG 測試之應用。而附錄資料係介紹BSDL 之概要及BSDL檔案之範例。本書適用於對JTAG 之IC 測試原理與應用有興趣之讀者及相關從業人員。
- 目錄
第1章 JTAG測試之必要性
- 1.1 以往使用之多探針法檢驗(probing)已遇到界限1-2
- 1.2 何謂JTAG測試1-5
- 1.3 以內建矽質探針取代金屬探針1-12
- 1.4 JTAG測試規格化之歷史沿革1-13
第2章 JTAG測試相容元件之架構
- 2.1 暫存器之種類與功能2-1
- 2.2 何謂測試存取埠TAP2-6
- 2.3 TAP控制器之狀態演變2-7
- 2.4 TAP控制器之指令2-12
第3章 JTAG測試之功能
- 3.1 JTAG測試系統之構成3-1
- 3.2 JTAG測試之實施步驟3-3
- 3.3 JTAG測試之執行3-11
- 3.4 元件之誤插接測試3-14
- 3.5 外界電路與元件間之輸入/輸出信號監視3-15
- 3.6 從元件輸出信號到外界電路3-16
- 3.7 元件間之互接測試3-19
- 3.8 以往元件之功能測試3-22
- 3.9 內部邏輯電路之功能測試3-23
- 3.10 其他元件固有之功能3-23
第4章 簡易版JTAG測試程式之實例
- 4.1 被測試基板之製作4-1
- (1) 被測試基板之電路構成4-2
- (2) 對製作完成之基板功能作確認4-5
- 4.2 如何處置TAP介面4-6
- (1) 連接電纜之製作4-7
- (2) 連接電纜之查驗4-9
- 4.3 對TAP控制程式設計之準備4-16
- (1) 控制信號之種類與控制時序4-16
- (2) 作為基本最小控制單位之函數4-17
- (3) 擬加以重置之函數4-18
- (4) 嘗試讀取狀態字元4-19
- 4.4 TAP控制程式設計之實例4-24
- (1) 經由C語言之TAP控制程式設計(Programming)4-24
- (2) 指令通路之控制4-31
- (3) 資料通路之控制4-37
- (4) 不要測試之元件加以旁通4-41
- 4.5 請確認外界連接4-43
- (1) 點亮LED4-43
- (2) 圖案連接之測試4-45
- (3) 週邊電路之測試4-48
第5章 JTAG測試之應用
- 5.1 高速、高功能微處理器用ICE5-1
- (1) JTAG測試應用到ICE之優點5-2
- (2) JTAG測試應用到ICE之架構5-3
- 5.2 對由多數基板所構成系統之應用5-6
- (1) 系統匯流排之JTAG測試5-6
- (2) 設法將掃描通路連接到匯流排5-10
- (3) 掃描跨橋之靈活運用5-12
- 5.3 控制系統之監控5-14
- (1) CPU動作狀態之監視5-15
- (2) I/O埠之狀態監視5-16
- (3) 各種控制器之狀態監視5-18
- (4) 監控系統之構成範例5-19
- 5.4 對系統高可靠化之應用5-21
- (1) 高可靠化系統之硬體架構5-21
- (2) 以繼續執行替代為前提之軟體架構5-23
- (3) 將重點放在軟體之故障檢測5-24
- (4) 使用高可靠度之JTAG測試就不再需要專用電路5-25
- 5.5 CPLD在基板上之寫入介面5-26
- (1) 寫入用電纜之範例5-26
- (2) 基板上寫入用介面5-27
- (3) 寫入演算法之範例5-30
- 5.6 對串列通信之應用5-32
- (1) JTAG測試方式之串列通信動作規格5-33
- (2) 可使用於串列通信之現成元件5-34
- (3) 串列通信之實驗系統5-36
- (4) 實驗基板之概要5-38
- (5) SCAN18541T之JTAG測試規格說明5-39
- (6) 經由JTAG測試方法之串列通信測試程式範例5-42
- (7) 對可靠性之考量5-55
第6章 類比IC之JTAG測試
- 6.1 追加2條信號線6-1
- 6.2 類比元件之測試法6-2
- 6.3 今後之JTAG測試與問題點6-4
資料1 BSDL之概要
資料2 BSDL檔案之範例
- 1.1 以往使用之多探針法檢驗(probing)已遇到界限1-2