UVM 芯片驗證技術案例集
馬驍
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商品描述
本書是基於UVM驗證方法學的針對芯片驗證實際工程場景的技術專題工具書，包括對多種實際問題場景下的解決專題，推薦作為UVM的進階教材進行學習。 不同於帶領讀者學習UVM的基礎用法，本書分為多個專題，每個專題專註解決一種芯片驗證場景下的工程問題，相關技術工程師可以快速參考並復現解決思路和步驟，實用性強。本書詳細描述了每個專題要解決的問題、背景，解決的思路、基本原理、步驟，並給出了示例代碼供參考。 本書適合具備一定基礎的相關專業的在校大學生或者相關領域的技術工程人員進行閱讀學習，書中針對多種芯片驗證實際工程場景給出了對應的解決方法，具備一定的工程參考價值，並且可以作為高等院校和培訓機構相關專業的教學參考書。
目錄大綱
目錄
本書源碼
第1章可重用的UVM驗證環境
1.1背景技術方案及缺陷
1.1.1現有方案
1.1.2主要缺陷
1.2解決的技術問題
1.3提供的技術方案
1.3.1結構
1.3.2原理
1.3.3優點
1.3.4具體步驟
第2章interface快速聲明、連接和配置傳遞的方法
2.1背景技術方案及缺陷
2.1.1現有方案
2.1.2主要缺陷
2.2解決的技術問題
2.3提供的技術方案
2.3.1結構
2.3.2原理
2.3.3優點
2.3.4具體步驟
第3章在可重用驗證環境中連接interface的方法
3.1背景技術方案及缺陷
3.1.1現有方案
3.1.2主要缺陷
3.2解決的技術問題
3.3提供的技術方案
3.3.1結構
3.3.2原理
3.3.3優點
3.3.4具體步驟
第4章支持結構體埠數據類型的連接interface的方法
4.1背景技術方案及缺陷
4.1.1現有方案
4.1.2主要缺陷
4.2解決的技術問題
4.3提供的技術方案
4.3.1結構
4.3.2原理
4.3.3優點
4.3.4具體步驟
第5章快速配置和傳遞驗證環境中配置對象的方法
5.1背景技術方案及缺陷
5.1.1現有方案
5.1.2主要缺陷
5.2解決的技術問題
5.3提供的技術方案
5.3.1結構
5.3.2原理
5.3.3優點
5.3.4具體步驟
第6章對採用reactive slave方式驗證的改進方法
6.1背景技術方案及缺陷
6.1.1現有方案
6.1.2主要缺陷
6.2解決的技術問題
6.3提供的技術方案
6.3.1結構
6.3.2原理
6.3.3優點
6.3.4具體步驟
第7章應用sequence反饋機制的激勵控制方法
7.1背景技術方案及缺陷
7.1.1現有方案
7.1.2主要缺陷
7.2解決的技術問題
7.3提供的技術方案
7.3.1結構
7.3.2原理
7.3.3優點
7.3.4具體步驟
第8章應用uvm_tlm_analysis_fifo的激勵控制方法
8.1背景技術方案及缺陷
8.1.1現有方案
8.1.2主要缺陷
8.2解決的技術問題
8.3提供的技術方案
8.3.1結構
8.3.2原理
8.3.3優點
8.3.4具體步驟
第9章快速建立DUT替代模型的記分板標準方法
9.1背景技術方案及缺陷
9.1.1現有方案
9.1.2主要缺陷
9.2解決的技術問題
9.3提供的技術方案
9.3.1結構
9.3.2原理
9.3.3優點
9.3.4具體步驟
第10章支持亂序比較的記分板的快速實現方法
10.1背景技術方案及缺陷
10.1.1現有方案
10.1.2主要缺陷
10.2解決的技術問題
10.3提供的技術方案
10.3.1結構
10.3.2原理
10.3.3優點
10.3.4具體步驟
第11章對固定延遲輸出結果的RTL接口信號的monitor的簡便方法
11.1背景技術方案及缺陷
11.1.1現有方案
11.1.2主要缺陷
11.2解決的技術問題
11.3提供的技術方案
11.3.1結構
11.3.2原理
11.3.3優點
11.3.4具體步驟
第12章監測和控制DUT內部信號的方法
12.1背景技術方案及缺陷
12.1.1現有方案
12.1.2主要缺陷
12.2解決的技術問題
12.3提供的技術方案
12.3.1結構
12.3.2原理
12.3.3優點
12.3.4具體步驟
第13章向UVM驗證環境中傳遞設計參數的方法
13.1背景技術方案及缺陷
13.1.1現有方案
13.1.2主要缺陷
13.2解決的技術問題
13.3提供的技術方案
13.3.1結構
13.3.2原理
13.3.3優點
13.3.4具體步驟
第14章對設計與驗證平臺連接集成的改進方法
14.1背景技術方案及缺陷
14.1.1現有方案
14.1.2主要缺陷
14.2解決的技術問題
14.3提供的技術方案
14.3.1結構
14.3.2原理
14.3.3優點
14.3.4具體步驟
第15章應用於路由類模塊設計的transaction調試追蹤和控制的方法
15.1背景技術方案及缺陷
15.1.1現有方案
15.1.2主要缺陷
15.2解決的技術問題
15.3提供的技術方案
15.3.1結構
15.3.2原理
15.3.3優點
15.3.4具體步驟
第16章使用UVM sequence item對包含layered protocol的RTL設計進行驗證的
簡便方法
16.1背景技術方案及缺陷
16.1.1現有方案
16.1.2主要缺陷
16.2解決的技術問題
16.3提供的技術方案
16.3.1結構
16.3.2原理
16.3.3優點
16.3.4具體步驟
第17章應用於VIP的訪問者模式方法
17.1背景技術方案及缺陷
17.1.1現有方案
17.1.2主要缺陷
17.2解決的技術問題
17.3提供的技術方案
17.3.1結構
17.3.2原理
17.3.3優點
17.3.4具體步驟
第18章設置UVM目標phase的額外等待時間的方法
18.1背景技術方案及缺陷
18.1.1現有方案
18.1.2主要缺陷
18.2解決的技術問題
18.3提供的技術方案
18.3.1結構
18.3.2原理
18.3.3優點
18.3.4具體步驟
第19章基於UVM驗證平臺的模擬結束機制
19.1背景技術方案及缺陷
19.1.1現有方案
19.1.2主要缺陷
19.2解決的技術問題
19.3提供的技術方案
19.3.1結構
19.3.2原理
19.3.3優點
19.3.4具體步驟
第20章記分板和斷言檢查相結合的驗證方法
20.1背景技術方案及缺陷
20.1.1現有方案
20.1.2主要缺陷
20.2解決的技術問題
20.3提供的技術方案
20.3.1結構
20.3.2原理
20.3.3優點
20.3.4具體步驟
第21章支持錯誤註入驗證測試的驗證平臺
21.1背景技術方案及缺陷
21.1.1現有方案
21.1.2主要缺陷
21.2解決的技術問題
21.3提供的技術方案
21.3.1結構
21.3.2原理
21.3.3優點
21.3.4具體步驟
第22章一種基於bind的ECC存儲註錯測試方法
22.1背景技術方案及缺陷
22.1.1現有方案
22.1.2主要缺陷
22.2解決的技術問題
22.3提供的技術方案
22.3.1結構
22.3.2原理
22.3.3優點
22.3.4具體步驟
第23章在驗證環境中更優的枚舉型變量的聲明使用方法
23.1背景技術方案及缺陷
23.1.1現有方案
23.1.2主要缺陷
23.2解決的技術問題
23.3提供的技術方案
23.3.1結構
23.3.2原理
23.3.3優點
23.3.4具體步驟
第24章基於UVM方法學的SVA封裝方法
24.1背景技術方案及缺陷
24.1.1現有方案
24.1.2主要缺陷
24.2解決的技術問題
24.3提供的技術方案
24.3.1結構
24.3.2原理
24.3.3優點
24.3.4具體步驟
第25章增強對SVA調試和控制的方法
25.1背景技術方案及缺陷
25.1.1現有方案
25.1.2主要缺陷
25.2解決的技術問題
25.3提供的技術方案
25.3.1結構
25.3.2原理
25.3.3優點
25.3.4具體步驟
第26章針對芯片復位測試場景下的驗證框架
26.1背景技術方案及缺陷
26.1.1現有方案
26.1.2主要缺陷
26.2解決的技術問題
26.3提供的技術方案
26.3.1結構
26.3.2原理
26.3.3優點
26.3.4具體步驟
第27章採用事件觸發的芯片復位測試方法
27.1背景技術方案及缺陷
27.1.1現有方案
27.1.2主要缺陷
27.2解決的技術問題
27.3提供的技術方案
27.3.1結構
27.3.2原理
27.3.3優點
27.3.4具體步驟
第28章支持多空間域的芯片復位測試方法
28.1背景技術方案及缺陷
28.1.1現有方案
28.1.2主要缺陷
28.2解決的技術問題
28.3提供的技術方案
28.3.1結構
28.3.2原理
28.3.3優點
28.3.4具體步驟
第29章對參數化類的壓縮處理技術
29.1背景技術方案及缺陷
29.1.1現有方案
29.1.2主要缺陷
29.2解決的技術問題
29.3提供的技術方案
29.3.1結構
29.3.2原理
29.3.3優點
29.3.4具體步驟
第30章基於UVM的中斷處理技術
30.1背景技術方案及缺陷
30.1.1現有方案
30.1.2主要缺陷
30.2解決的技術問題
30.3提供的技術方案
30.3.1結構
30.3.2原理
30.3.3優點
30.3.4具體步驟
第31章實現覆蓋率收集代碼重用的方法
31.1背景技術方案及缺陷
31.1.1現有方案
31.1.2主要缺陷
31.2解決的技術問題
31.3提供的技術方案
31.3.1結構
31.3.2原理
31.3.3優點
31.3.4具體步驟
第32章對實現覆蓋率收集代碼重用方法的改進
32.1背景技術方案及缺陷
32.1.1現有方案
32.1.2主要缺陷
32.2解決的技術問題
32.3提供的技術方案
32.3.1結構
32.3.2原理
32.3.3優點
32.3.4具體步驟
第33章針對相互依賴的成員變量的隨機約束方法
33.1背景技術方案及缺陷
33.1.1現有方案
33.1.2主要缺陷
33.2解決的技術問題
33.3提供的技術方案
33.3.1結構
33.3.2原理
33.3.3優點
33.3.4具體步驟
第34章對隨機約束程序塊的控制管理及重用的方法
34.1背景技術方案及缺陷
34.1.1現有方案
34.1.2主要缺陷
34.2解決的技術問題
34.3提供的技術方案
34.3.1結構
34.3.2原理
34.3.3優點
34.3.4具體步驟
第35章隨機約束和覆蓋組同步技術
35.1背景技術方案及缺陷
35.1.1現有方案
35.1.2主要缺陷
35.2解決的技術問題
35.3提供的技術方案
35.3.1結構
35.3.2原理
35.3.3優點
35.3.4具體步驟
第36章在隨機約束對象中實現多繼承的方法
36.1背景技術方案及缺陷
36.1.1現有方案
36.1.2主要缺陷
36.2解決的技術問題
36.3提供的技術方案
36.3.1結構
36.3.2原理
36.3.3優點
36.3.4具體步驟
第37章支持動態地址映射的寄存器建模方法
37.1背景技術方案及缺陷
37.1.1現有方案
37.1.2主要缺陷
37.2解決的技術問題
37.3提供的技術方案
37.3.1結構
37.3.2原理
37.3.3優點
37.3.4具體步驟
第38章對寄存器突發訪問的建模方法
38.1背景技術方案及缺陷
38.1.1現有方案
38.1.2主要缺陷
38.2解決的技術問題
38.3提供的技術方案
38.3.1結構
38.3.2原理
38.3.3優點
38.3.4具體步驟
第39章基於UVM存儲模型的寄存器突發訪問的建模方法
39.1背景技術方案及缺陷
39.1.1現有方案
39.1.2主要缺陷
39.2解決的技術問題
39.3提供的技術方案
39.3.1結構
39.3.2原理
39.3.3優點
39.3.4具體步驟
第40章寄存器間接訪問的驗證模型實現框架
40.1背景技術方案及缺陷
40.1.1現有方案
40.1.2主要缺陷
40.2解決的技術問題
40.3提供的技術方案
40.3.1結構
40.3.2原理
40.3.3優點
40.3.4具體步驟
第41章基於UVM的存儲建模優化方法
41.1背景技術方案及缺陷
41.1.1現有方案
41.1.2主要缺陷
41.2解決的技術問題
41.3提供的技術方案
41.3.1結構
41.3.2原理
41.3.3優點
41.3.4具體步驟
第42章對片上存儲空間動態管理的方法
42.1背景技術方案及缺陷
42.1.1現有方案
42.1.2主要缺陷
42.2解決的技術問題
42.3提供的技術方案
42.3.1結構
42.3.2原理
42.3.3優點
42.3.4具體步驟
42.3.5算法性能測試
42.3.6備註
第43章簡便且靈活的寄存器覆蓋率統計收集方法
43.1背景技術方案及缺陷
43.1.1現有方案
43.1.2主要缺陷
43.2解決的技術問題
43.3提供的技術方案
43.3.1結構
43.3.2原理
43.3.3優點
43.3.4具體步驟
第44章模擬真實環境下的寄存器重配置的方法
44.1背景技術方案及缺陷
44.1.1現有方案
44.1.2主要缺陷
44.2解決的技術問題
44.3提供的技術方案
44.3.1結構
44.3.2原理
44.3.3優點
44.3.4具體步驟
第45章使用C語言對UVM環境中寄存器的讀寫訪問方法
45.1背景技術方案及缺陷
45.1.1現有方案
45.1.2主要缺陷
45.2解決的技術問題
45.3提供的技術方案
45.3.1結構
45.3.2原理
45.3.3優點
45.3.4具體步驟
第46章提高對寄存器模型建模代碼可讀性的方法
46.1背景技術方案及缺陷
46.1.1現有方案
46.1.2主要缺陷
46.2解決的技術問題
46.3提供的技術方案
46.3.1結構
46.3.2原理
46.3.3優點
46.3.4具體步驟
第47章兼容UVM的供應商存儲IP的後門訪問方法
47.1背景技術方案及缺陷
47.1.1現有方案
47.1.2主要缺陷
47.2解決的技術問題
47.3提供的技術方案
47.3.1結構
47.3.2原理
47.3.3優點
47.3.4具體步驟
47.3.5備註
第48章應用於芯片領域的代碼倉庫管理方法
48.1背景技術方案及缺陷
48.1.1現有方案
48.1.2主要缺陷
48.2解決的技術問題
48.3提供的技術方案
48.3.1結構
48.3.2原理
48.3.3優點
48.3.4具體步驟
第49章DPI多線程模擬加速技術
49.1背景技術方案及缺陷
49.1.1現有方案
49.1.2主要缺陷
49.2解決的技術問題
49.3提供的技術方案
49.3.1結構
49.3.2原理
49.3.3優點
49.3.4具體步驟
第50章基於UVM驗證平臺的硬件模擬加速技術
50.1背景技術方案及缺陷
50.1.1現有方案
50.1.2主要缺陷
50.2解決的技術問題
50.3提供的技術方案
50.3.1結構
50.3.2原理
50.3.3優點
50.3.4具體步驟
