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商品描述
資深驗證專家劉斌（路桑）向您全面介紹芯片驗證，從驗證的理論，到SystemVerilog語言和UVM驗證方法學，再到高級驗證項目話題。這本綜合性、實用性的驗證理論和編程方面的圖書，針對芯片驗證領域不同級別的驗證工程師，給出由淺入深的技術指南：學習驗證理論來認識驗證流程和標準，學習SystemVerilog語言和UVM方法學來掌握目前主流的動態驗證技術，瞭解高級驗證話題在今後遇到相關問題時可以參考。
作者簡介
劉斌（路桑），目前是Intel公司的資深驗證專家。在Intel移動通信事業部主持驗證架構規劃和方法學研究，擔任過幾款億門級通信芯片的驗證經理角色。在工程領域之外，他在西安電子科技大學和西安交通大學客座講授芯片驗證課程。創辦的驗證技術訂閱號“路科驗證”，目前已有超過10000名的訂閱者。多次在設計驗證行業國際會議和展覽中發表論文，並做了富有特色的演講。在西安交通大學取得微電子專業學士學位，在瑞典皇家理工學院取得芯片設計專業碩士學位。
目錄大綱
第1章 芯片驗證全視
1.1 功能驗證簡介
1.2 驗證的處境
1.2.1 驗證語言的發展
1.2.2 驗證面臨的挑戰
1.3 驗證能力的5個維度
1.3.1 完備性
1.3.2 覆用性
1.3.3 高效性
1.3.4 高產出
1.3.5 代碼性能
1.4 驗證的任務和目標
1.4.1 按時保質低耗
1.4.2 芯片研發與客戶反饋
1.4.3 缺陷增長曲線
1.5 驗證的周期
1.5.1 驗證周期中的檢查點
1.5.2 功能詳述
1.5.3 制定驗證計劃
1.5.4 開發驗證環境
1.5.5 調試環境和HDL文件
1.5.6 回歸測試
1.5.7 芯片生產
1.5.8 矽後系統測試
1.5.9 逃逸分析
1.6 本章結束語
第2章 驗證的策略
2.1 設計的流程
2.1.1 TLM模型的需求和ESL開發
2.1.2 傳統的系統設計流程
2.1.3 ESL系統設計流程
2.1.4 語言的抽象級比較
2.1.5 傳統的系統集成視角
2.1.6 ESL系統集成視角
2.2 驗證的層次
2.2.1 模塊級
2.2.2 子系統級
2.2.3 芯片系統級
2.2.4 矽後系統級
2.3 驗證的透明度
2.3.1 黑盒驗證
2.3.2 白盒驗證
2.3.3 灰盒驗證
2.4 激勵的原則
2.4.1 接口類型
2.4.2 序列顆粒度
2.4.3 可控性
2.4.4 組件獨立性
2.4.5 組合自由度
2.5 檢查的方法
2.6 集成的環境
2.6.1 驗證平臺
2.6.2 待驗設計
2.6.3 運行環境
2.6.4 驗證管理
2.7 本章結束語
第3章 驗證的方法
3.1 動態模擬
3.1.1 定向測試
3.1.2 隨機測試
3.1.3 基於覆蓋率驅動的隨機驗證
3.1.4 基於TLM的隨機驗證
3.1.5 斷言檢查
3.2 靜態檢查
3.2.1 語法檢查
3.2.2 語義檢查
第4章 驗證的計劃
第5章 驗證的管理
第6章 驗證的結構
第7章 SV環境構建
第8章 SV組件實現
第9章 SV系統集成
第10章 UVM世界觀
第11章 UVM結構
第12章 UVM通信
第13章 UVM序列
第14章 UVM寄存器
第15章 驗證平臺自動化
第16章 跨平臺移植覆用
第17章 SV及UVM接口應用
第18章 SV及UVM高級話題
參考文獻
