單板級 JTAG 測試技術 单板级JTAG测试技术
王承, 劉治國
- 出版商: 國防工業
- 出版日期: 2015-06-01
- 定價: $348
- 售價: 8.5 折 $296
- 語言: 簡體中文
- 頁數: 205
- 裝訂: 平裝
- ISBN: 7118099864
- ISBN-13: 9787118099867
已絕版
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商品描述
<內容簡介>
王承、劉治國編著的《單板級JTAG測試技術》是一本系統論述單板級JTAG測試技術的專著。內容包括：基於IEEEl 149．1標準的邊界掃描測試、可測性設計和測試功能及串行測試矢量；內建自測試和模擬測試；基於IEEEl687標準的集成電路測試技術發展趨勢。
本書適合於從事集成電路開發的工程技術人員閱讀，對於電子測量、通信工程和電路系統學科的學生，也有一定的參考作用。
<章節目錄>
第1章 測試的基本概念
1.1 數字電路測試
1.1.1 測試
1.1.2 測試分類
1.1.3 數字電路分類
1.2 故障及故障模型
1.3 演算法
1.4 測試覆蓋率和故障檢出率
1.5 測試矢量
1.5.1 組合電路的測試矢量生成
1.5.2 時序電路的測試矢量生成
1.6 可測性
1.6.1 可控性
1.6.2 可觀性
1.6.3 可測性設計方法
第2章 單板級.ITAG測試
2.1 背景介紹
2.2 傳統單板測試方法的困難
2.2.1 在線測試
2.2.2 光學測試
2.2.3 功能測試
2.3 生產製造應用
2.4 JTAG測試技術
2.5 單板級JTAG測試
……
第3章 IEEE1149.X標準
第4章 單板級邊界掃描可測性設計
第5章 邊界掃描測試技術應用
第6章 串行矢量格式
第7章 內建自測試技術
第8章 片上模擬測試
第9章 嵌入測試
參考文獻
