積體電路測試實務, 3/e
廖裕評 , 陸瑞強
- 出版商: 全華圖書
- 出版日期: 2022-05-19
- 定價: $320
- 售價: 9.0 折 $288
- 語言: 繁體中文
- 頁數: 216
- ISBN: 6263282053
- ISBN-13: 9786263282056
無法訂購
買這商品的人也買了...
-
$780$764 -
$750$735 -
$1,350$1,323 -
$480$470 -
$620$608 -
$800$760 -
$650$553 -
$990Heterogeneous Computing with OpenCL (Paperback)
-
$960$912 -
$900$855 -
$301Linux 系統命令及 Shell 腳本實踐指南
-
$380$361 -
$281信號完整性與 PCB 設計( Signal Integrity Issues and Printed Circuit Board Design)
-
$1,420$1,392 -
$750$638 -
$520$406 -
$720$569 -
$470$423 -
$780$616 -
$400$316 -
$690$517 -
$980$833 -
$550$495
相關主題
商品描述
積體電路設計是近年來熱門話題,半導體產品廣範的被人使用,本書作者以基礎測試觀念將重點整理出來。
本書第一章為了積體電路測試的簡介,介紹基本配備及觀念。第二章IC特性與規格介紹,介紹邏輯元件的電性。第三章DC參數測試,介紹高阻抗電流、開路/短路測試及故障排除。第四章功能測試。第五章資料分析,含晶片地圖、統計製程(SPC)。第六章測試經濟學,介紹成本、產能。附錄整理出詞彙並附有解釋。
本書適合大學、科大電子、電機、資工系「積體電路測試」課程。
目錄大綱
第1章 積體電路測試簡介
第2章 IC特性與規格介紹
第3章 DC參數測試
第4章 功能測試
第5章 資料分析
第6章 測試經濟學
附 錄 詞彙解釋