Benchmarking, Measuring, and Optimizing: Second Benchcouncil International Symposium, Bench 2019, Denver, Co, Usa, November 14-16, 2019, Revised Selec
暫譯: 基準測試、測量與優化：第二屆 Benchcouncil 國際研討會，Bench 2019，丹佛，科羅拉多州，美國，2019年11月14-16日，修訂選集
Gao, Wanling, Zhan, Jianfeng, Fox, Geoffrey
- 出版商: Springer
- 出版日期: 2020-06-09
- 售價: $2,420
- 貴賓價: 9.5 折 $2,299
- 語言: 英文
- 頁數: 362
- 裝訂: Quality Paper - also called trade paper
- ISBN: 3030495558
- ISBN-13: 9783030495558
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商品描述
This book constitutes the refereed proceedings of the Second International Symposium on Benchmarking, Measuring, and Optimization, Bench 2019, held in Denver, CO, USA, in November 2019.
The 20 full papers and 11 short papers presented were carefully reviewed and selected from 79 submissions.
The papers are organized in topical sections named: Best Paper Session; AI Challenges on Cambircon using AIBenc; AI Challenges on RISC-V using AIBench; AI Challenges on X86 using AIBench; AI Challenges on 3D Face Recognition using AIBench; Benchmark; AI and Edge; Big Data; Datacenter; Performance Analysis; Scientific Computing.
商品描述(中文翻譯)
本書為第二屆國際基準測試、測量與優化研討會（Benchmarking, Measuring, and Optimization, Bench 2019）的經過審核的會議論文集，該會議於2019年11月在美國科羅拉多州丹佛市舉行。
本次會議共提交了79篇論文，經過仔細審核後，最終選出了20篇完整論文和11篇短文。
這些論文依主題分為以下幾個部分：最佳論文會議；使用AIBench的Cambircon上的AI挑戰；使用AIBench的RISC-V上的AI挑戰；使用AIBench的X86上的AI挑戰；使用AIBench的3D人臉識別上的AI挑戰；基準測試；AI與邊緣計算；大數據；數據中心；性能分析；科學計算。
