Optical Interferometry, 2/e (Hardcover)
暫譯: 光學干涉儀,第二版(精裝本)
P. Hariharan
- 出版商: Academic Press
- 出版日期: 2003-09-22
- 售價: $1,029
- 語言: 英文
- 頁數: 351
- 裝訂: Hardcover
- ISBN: 0123116309
- ISBN-13: 9780123116307
已絕版
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商品描述
Description:
When the first edition of "Optical Interferometry" was published, interferometry was regarded as a rather esoteric method of making measurements, largely confined to the laboratory. Today, however, besides its use in several fields of research, it has applications in fields as diverse as measurement of length and velocity, sensors for rotation, acceleration, vibration and electrical and magnetic fields, as well as in microscopy and nanotechnology.
Most topics are discussed first at a level accessible to anyone with a basic knowledge of physical optics, then a more detailed treatment of the topic is undertaken, and finally each topic is supplemented by a reference list of more than 1000 selected original publications in total.
Table of Contents:
Chapter 1
Optical interferometry: its development
1.1 The wave theory of light
1.2 Michelson"s experiment
1.3 Measurement of the metre
1.4 Coherence
1.5 Interference filters
1.6 Interference spectroscopy
1.7 The development of the laser
1.8 Electronic techniques
1.9 Heterodyne techniques
1.10 Holographic interferometry
1.11 Speckle interferrometry
1.12 Stellar interferometry
1.13 Relativity and gravitational waves
1.14 Fiber interferometers
1.15 Nonlinear interferometers
1.16 Quantum effects
1.17 Future directions
Chapter 2
Two-beam interference
2.1 Complex representation of light waves
2.2 Interference of two monochromatic waves
2.3 Wavefront division
2.4 Amplitude division
2.4.1Interference in a plane-parallel plate
2.4.2Fizeau fringes
2.4.3Interference in a thin film
2.5 Localization of fringes
2.5.1Nonlocalized fringes
2.5.2Localized fringes
2.5.3Fringes in a plane-parallel plate
2.5.4Fringes in a thin film
2.6 Two-beam interferometers
2.7 The Michelson interferometer
2.7.1Nonlocalized fringes
2.7.2Fringes of equal inclination
2.7.3Fringes of equal thickness
2.8 The Mach-Zehnder interferometer
2.9 The Sagnac interferometer
2.10 Interference with white light
2.11Channeled spectra
2.12 Achromatic fringes
2.13 Interferential color photography
Chapter 3
Coherence
3.1 Quasi-monochromatic light
3.2 Waves and wave groups
3.3 Phase velocity and group velocity
3.4 The mutual coherence function
3.5 Spatial coherence
3.6 Temporal coherence
3.7 Coherence time and coherence length
3.8 Combined spatial and temporal effects
3.9 Application to a two-beam interferometer
3.10 Source-size effects
3.11 Spectral bandwidth effects
3.12 Spectral coherence
3.13 Polarization effects
Chapter 4
Multiple-beam interference
4.1 Fringes in a plane-parallel plate
4.2 Fringes by reflection
4.3 Fringes in a thin film: fringes of equal thickness
4.4 Fringes of equal chromatic order
4.5 Fringes of superposition
4.6 Three-beam fringes
4.7 Double-passed fringes
Chapter 5
The laser as a light source
5.1 Gas lasers
5.2 Laser modes
5.2.1Modes of a confocal resonator
5.2.2Generalized spherical resonator
5.2.3Longitudinal modes
5.2.4Single-frequency operation
5.3 Comparison of laser frequencies
5.4 Frequency stabilization
5.4.1Polarization stabilized laser
5.4.2Stabilized transverse Zeeman laser
5.4.3Stabilization on the Lamb dip
5.4.4Stabilization by saturated absorption
5.4.5Stabilization by saturated fluorescence
5.5 Semiconductor lasers
5.6 Ruby and Nd:YAG lasers
5.7 Dye lasers
5.8 Laser beams
Chapter 6
Electronic techniques
6.1 Photoelectric setting methods
6.2 Fringe counting
6.3 Heterodyne interferometry
6.4 Computer-aided fringe analysis
6.4.1Fourier transform techniques
6.5 Phase-shifting interferometry
6.5.1Error-correcting algorithms
6.6 Techniques of phase shifting
6.6.1Frequency shifting
6.6.2Polarization techniques
Chapter 7
Measurements of length
7.1 Line standards
7.2 End standards
7.3 The integral interference order
7.4 Exact fractions
7.5 The refractive index of air
7.6 The international prototype metre
7.7 The 86Kr standard
7.8 Frequency measurements
7.9 The definition of the metre
7.10 Length measurements with lasers
7.10.1Two-wavelength interferometry
7.10.2Frequency-modulation interferometry
7.11 Changes in length
Chapter 8
Optical testing
8.1 The Fizeau interferometer
8.2 The Twyman-Green interferometer
8.3 Unequal-path interferometers
8.4 Phase unwrapping
8.5 Analysis of wavefront aberrations
8.5.1Zernike polynomials
8.5.2Wavefront fitting
8.6 Shearing interferometers
8.6.1Lateral shearing interferometers
8.6.2Interpretation of interferograms
8.6.3Rotational and radial shearing
8.7 Grating interferometers
8.8 The scatter-plate interferometer
8.9 The point-diffraction interferometer
8.10 Computerized test methods
8.10.1Absolute tests for flatness
8.10.2Small-scale irregularities
8.10.3Sources of error
8.10.4Subaperture testing
8.10.5Testing aspheric surfaces
8.10.6Computer-generated holograms
8.11 Testing of rough surfaces
8.12 The optical transfer function
Chapter 9
Interference microscopy
9.1 The Mirau interferometer
9.2 Common-path interference microscopes
9.3 Polarization interferometers
9.3.1Lateral shear
9.3.2Radial shear
9.4 The Nomarski interferometer
9.5 Electronic phase measurements
9.5.1Phase-shifting techniques
9.6 Surface profiling with white light
9.6.1Achromatic phase-shifting
9.6.2Spectrally resolved interferometry
Chapter 10
Interferometric sensors
10.1 Rotation sensing
10.1.1Ring lasers
10.1.2Ring interferometers
10.2 Laser-feedback interferometers
10.2.1Diode-laser interferometers
10.3 Fiber interferometers
10.4 Multiplexed fiber-optic sensors
10.5 Doppler interferometry
10.5.1Laser-Doppler velocimetry
10.5.2Measurements of surface velocities
10.6 Vibration measurements
10.7 Magnetic fields
10.8 Adaptive optical systems
Chapter 11
Interference spectroscopy
11.1 Etendue of an interferometer
11.2 The Fabry-Perot interferometer
11.3 The scanning Fabry-Perot interferometer
11.4 The spherical-mirror Fabry-Perot interferometer
11.5 The multiple Fabry-Perot interferometer
11.6 The multiple-pass Fabry-Perot interferometer
11.7 Holographic filters
11.8 Birefringent filters
11.9 Wavelength meters
11.9.1Dynamic wavelength meters
11.9.2Static wavelength meters
11.10 Heterodyne techniques
11.11 Measurements of laser linewidths
Chapter 12
Fourier-transform spectroscopy
12.1 The etendue and multiplex advantages
12.2 Theory
12.3 Resolution and apodization
12.4 Sampling
12.5 Effect of source and detector size
12.6 Field widening
12.7 Phase correction
12.8 Noise
12.9 Pre-filtering
12.10 Interferometers for Fourier-transform spectroscopy
12.11 Computation of the spectrum
12.12 Applications
Chapter 13
Nonlinear interferometers
13.1 Interferometry with pulsed lasers
13.2 Second-harmonic interferometers
13.2.1Critical phase matching
13.3 Phase-conjugate interferometers
13.3.1Phase-conjugating mirrors
13.4 Interferometers using active elements
13.5 Photorefractive oscillators
13.6 Measurements of nonlinear susceptibilities
Chapter 14
Stellar interferometry
14.1 Michelson"s stellar interferometer
14.2 The intensity interferometer
14.3 Heterodyne stellar interferometry
14.3.1Large heterodyne interferometer
14.4 Long-baseline interferometers
14.5 Stellar speckle interferometry
14.6 Telescope arrays
Chapter 15
Space-time and gravitation
15.1 The Michelson-Morley experiment
15.2 Gravitational waves
15.3 Gravitational-wave detectors
15.4 LIGO
15.5 The standard quantum limit
15.6 Squeezed states of light
15.7 Interferometry below the SQL
Chapter 16
Single-photon interferometry
16.1 Interferometry at the "single-photon" level
16.2 Interference - the quantum picture
16.3 Sources of nonclassical light
16.3.1Parametric down-conversion
16.4 The beam splitter
16.5 Interference with single-photon states
16.6 The geometric phase
16.6.1Observations at the "single-photon" level
16.6.2Observations with single-photon states
16.7 Interference with independent sources
16.7.1Observations at the "single-photon" level
16.7.2Observations in the time domain
16.8 Superposition states
Chapter 17
Fourth-order interference
17.1 Nonclassical fourth-order interference
17.2 Interference in separated interferometers
17.3 The geometric phase
Chapter 18
Two-photon interferometry
18.1 Interferometric tests of Bell"s inequality
18.2 Tests using unbalanced interferometers
18.3 Two-photon interference
18.4 The quantum eraser
18.5 Single-photon tunneling
18.5.1Dispersion cancellation
18.5.2Measurements of tunneling time
18.6 Conclusions
Appendix A
Two-dimensional linear systems
A.1 The Fourier transform
A.2 Convolution and correlation
A.3 The Dirac delta function
A.4 Random functions
Appendix B
The Fresnel-Kirchhoff integral
Appendix C
Reflection and transmission at a surface
C.1 The Fresnel transform
C.2 The Stokes relations
Appendix D
The Jones calculus
Appendix E
The geometric phase
E.1 The Poincare sphere
E.2 The Pancharatnam phase
Appendix F
Holography
F.1 The off-axis hologram
F.2 Volume holograms
F.3 Computer-generated holograms
Appendix G
Speckle
G.1 Speckle statistics
G.2 Second-order statistics
G.3 Image speckle
G.4 Young"s fringes
G.5 Addition of speckle patterns
Bibliography
References
Author index
Subject index
商品描述(中文翻譯)
描述:
當《光學干涉測量》的第一版出版時,干涉測量被視為一種相當深奧的測量方法,主要限於實驗室。然而,今天除了在幾個研究領域的應用外,它還應用於長度和速度的測量、旋轉、加速度、振動以及電場和磁場的傳感器,還有顯微鏡學和納米技術等多樣化的領域。
大多數主題首先以任何具備基本物理光學知識的人都能理解的層次進行討論,然後對該主題進行更詳細的處理,最後每個主題都附有超過1000篇精選原始出版物的參考列表。
目錄:
第一章
光學干涉測量:其發展
1.1 光的波動理論
1.2 米克耳遜實驗
1.3 米的測量
1.4 相干性
1.5 干涉濾光片
1.6 干涉光譜學
1.7 激光的發展
1.8 電子技術
1.9 外差技術
1.10 全息干涉測量
1.11 斑點干涉測量
1.12 恆星干涉測量
1.13 相對論與引力波
1.14 光纖干涉儀
1.15 非線性干涉儀
1.16 量子效應
1.17 未來方向
第二章
雙光束干涉
2.1 光波的複數表示
2.2 兩個單色波的干涉
2.3 波前分割
2.4 振幅分割
2.4.1 平行平板中的干涉
2.4.2 菲索條紋
2.4.3 薄膜中的干涉
2.5 條紋的定位
2.5.1 非定位條紋
2.5.2 定位條紋
2.5.3 平行平板中的條紋
2.5.4 薄膜中的條紋
2.6 雙光束干涉儀
2.7 米克耳遜干涉儀
2.7.1 非定位條紋
2.7.2 等傾斜條紋
2.7.3 等厚度條紋
2.8 馬赫-曾德干涉儀
2.9 薩尼克干涉儀
2.10 白光干涉
2.11 通道光譜
2.12 無色條紋
2.13 干涉彩色攝影
第三章
相干性
3.1 準單色光
3.2 波與波群
3.3 相位速度與群速度
3.4 互相相干函數
3.5 空間相干性
3.6 時間相干性
3.7 相干時間與相干長度
3.8 空間與時間的綜合效應
3.9 應用於雙光束干涉儀
3.10 源大小效應
3.11 光譜帶寬效應
3.12 光譜相干性
3.13 偏振效應
第四章
多光束干涉
4.1 平行平板中的條紋
4.2 反射條紋
4.3 薄膜中的條紋:等厚度條紋
4.4 等色彩序條紋
4.5 疊加條紋
4.6 三光束條紋
4.7 雙通過條紋
第五章
激光作為光源
5.1 氣體激光
5.2 激光模式
5.2.1 共焦共振腔的模式
5.2.2 廣義球形共振腔
5.2.3 縱向模式
5.2.4 單頻操作
5.3 激光頻率比較
5.4 頻率穩定
5.4.1 偏振穩定激光
5.4.2 穩定的橫向澤曼激光
5.4.3 在蘭姆凹陷上的穩定
5.4.4 由飽和吸收穩定
5.4.5 由飽和螢光穩定
5.5 半導體激光
5.6 鈰和Nd:YAG激光
5.7 染料激光
5.8 激光束
第六章
電子技術
6.1 光電設置方法
6.2 條紋計數
6.3 外差干涉測量
6.4 電腦輔助條紋分析
6.4.1 傅立葉變換技術
6.5 相位移干涉測量
6.5.1 錯誤修正算法
6.6 相位移技術
6.6.1 頻率移位
6.6.2 偏振技術
第七章
長度測量
7.1 線標準
7.2 端標準
7.3 整數干涉階
7.4 精確分數
7.5 空氣的折射率
7.6 國際原型米
7.7 86Kr標準
7.8 頻率測量
7.9 米的定義
7.10 使用激光的長度測量
7.10.1 雙波長干涉測量
7.10.2 頻率調變干涉測量
7.11 長度變化
第八章
光學測試
8.1 菲索干涉儀
8.2 特威曼-格林干涉儀
8.3 不等路徑干涉儀
8.4 相位解包
8.5 波前像差分析
8.5.1 泽爾尼克多項式
8.5.2 波前擬合
8.6 剪切干涉儀
8.6.1 橫向剪切干涉儀
8.6.2 干涉圖的解釋
8.6.3 旋轉和徑向剪切
8.7 光柵干涉儀
8.8 散射板干涉儀
8.9 點衍射干涉儀
8.10 電腦化測試方法
8.10.1 平整度的絕對測試
8.10.2 小規模不規則性
8.10.3 錯誤來源
8.10.4 子孔徑測試
8.10.5 測試非球面
8.10.6 電腦生成的全息圖
8.11 粗糙表面的測試
8.12 光學傳遞函數
第九章
干涉顯微鏡
9.1 米拉干涉儀
9.2 共路干涉顯微鏡
9.3 偏振干涉儀
9.3.1 橫向剪切
9.3.2 徑向剪切
9.4 諾馬斯基干涉儀
9.5 電子相位測量
9.5.1 相位移技術
9.6 使用白光的表面輪廓測量
9.6.1 無色相位移
9.6.2 光譜解析干涉測量
第十章
干涉傳感器
10.1 旋轉感測
10.1.1 環形激光
10.1.2 環形干涉儀
10.2 激光反饋干涉儀
10.2.1 二極體激光干涉儀
10.3 光纖干涉儀
10.4 多路光纖傳感器
10.5 多普勒干涉測量
10.5.1 激光多普勒速率計
10.5.2 表面速度測量
10.6 振動測量
10.7 磁場
10.8 自適應光學系統
第十一章
干涉光譜學
11.1 干涉儀的擴展性
11.2 法布里-佩羅干涉儀
11.3 掃描法布里-佩羅干涉儀
11.4 球面鏡法布里-佩羅干涉儀
11.5 多重法布里-佩羅干涉儀
11.6 多通過法布里-佩羅干涉儀
11.7 全息濾光片
11.8 雙折射濾光片
11.9 波長計
11.9.1 動態波長計
11.9.2 靜態波長計
11.10 外差技術
11.11 激光線寬測量
第十二章
傅立葉變換光譜學
12.1 擴展性和多路優勢
12.2 理論
12.3 解析度和窗函數
12.4 取樣
12.5 源和檢測器大小的影響
12.6 場擴展
12.7 相位修正
12.8 噪聲
12.9 預過濾
12.10 用於傅立葉變換光譜學的干涉儀
12.11 光譜的計算
12.12 應用
第十三章
非線性干涉儀
13.1 脈衝激光的干涉測量
13.2 二次諧波干涉儀
13.2.1 臨界相位匹配
13.3 相位共軛干涉儀
13.3.1 相位共軛鏡
13.4 使用主動元件的干涉儀
13.5 光折變振盪器
13.6 非線性易感度的測量
第十四章
恆星干涉測量
14.1 米克耳遜的恆星干涉儀
14.2 強度干涉儀
14.3 外差恆星干涉測量
14.3.1 大型外差干涉儀
14.4 長基線干涉儀
14.5 恆星斑點干涉測量
14.6 望遠鏡陣列
第十五章
時空與引力
15.1 米克耳遜-莫雷實驗
15.2 引力波
15.3 引力波檢測器
15.4 LIGO
15.5 標準量子極限
15.6 壓縮光狀態
15.7 低於SQL的干涉測量
第十六章
單光子干涉測量
16.1 在「單光子」層級的干涉測量
16.2 干涉 - 量子圖像
16.3 非經典光源
16.3.1 參數下轉換
16.4 光束分離器
16.5 與單光子狀態的干涉
16.6 幾何相位
16.6.1 在「單光子」層級的觀察
16.6.2 與單光子狀態的觀察
16.7 與獨立源的干涉
16.7.1 在「單光子」層級的觀察
16.7.2 時域中的觀察
16.8 疊加狀態
第十七章
四階干涉
17.1 非經典四階干涉
17.2 在分離干涉儀中的干涉
17.3 幾何相位
第十八章
雙光子干涉測量
18.1 貝爾不等式的干涉測試
18.2 使用不平衡干涉儀的測試
18.3 雙光子干涉
18.4 量子橡皮擦
18.5 單光子隧穿
18.5.1 色散抵消
18.5.2 隧穿時間的測量
18.6 結論
附錄A
二維線性系統
A.1 傅立葉變換
A.2 卷積與相關
A.3 狄拉克δ函數
A.4 隨機函數
附錄B
菲涅耳-基爾霍夫積分
附錄C
表面反射與透射
C.1 菲涅耳變換
C.2 斯托克斯關係
附錄D
瓊斯微積分
附錄E
幾何相位
E.1 庫朗圓
E.2 潘查拉納相位
附錄F
全息術
F.1 偏軸全息圖
F.2 體全息圖
F.3 電腦生成的全息圖
附錄G
斑點
G.1 斑點統計
G.2 二階統計
G.3 圖像斑點
G.4 楊氏條紋
G.5 斑點圖案的加法
參考文獻
參考資料
作者索引
主題索引